蛍光X線分析装置を導入しました
2014年01月28日ニュースリリース
2013年12月当社の品質管理分析・研究開発設備として最新機種であるリガク製波長分散型蛍光X線分析装置(Wavelength dispersive X-ray flourescence spectrometer)ZSM PrimusⅡを導入しました。
本装置は、粉末状や液状の試料にX線を照射するときに発生する固有X線（蛍光X線）を分光結晶で特定波長だけが検出器に到達し強度を計測することで、試料中の元素構成比を瞬時に定量できるものです。蛍光X線分析法は、試料を非破壊で迅速に軽元素であるホウ素より原子量の大きい元素までを瞬時に定量可能であるため、製品の多元素定量する品質管理分析に適した方法です。
本装置の特徴は、新規開発の新分光結晶の採用によって軽元素の高感度化が実現されております。CCDカメラが搭載されており試料画像を確認しながら分析位置を指定したり、マッピング測定が可能な機種です。
当社では、抗菌剤ゼオミックをはじめ多くの製品の構成主要元素の定量検査作業を本装置メインにて実施しており、当社製品の国際的基準で高いレベルの品質管理体制を維持しています。また新規材料開発などの研究開発分野でも活用しています。
蛍光X線本体の外観
蛍光X線チャート例